Электронная микроскопия в г. Москва
Нужен Электронная микроскопия в Москва? На этой странице собраны проверенные подрядчики с реальными мощностями, лицензиями, сертификатами и проверенными отзывами.
АО «Центр Аддитивных Технологий»
ООО «ИМПОРТПРОМ»
ООО «Сталь-Про»
Электронная микроскопия — анализ поверхности и микроструктуры образцов в пучке электронов с возможностью элементного и кристаллографического картирования. Электронная микроскопия в Москве: краткий обзор рынка — даны приблизительные усредненные цены, типовые возможности и ключевые требования к ТЗ. Все цифры — ориентировочные, итоговая стоимость зависит от материала, геометрии и объёма партии.
Ориентиры по цене
На окончательную стоимость влияет материал, радиусы/углы, точность и объём.
| Позиция | Параметр/размер | Ориентир, ₽ |
|---|---|---|
| Минимальный запуск | 1–2 образца, базовый протокол | от ~8 000–20 000 |
| СЭМ (SEM) | час работы оператора/микроскопа | от ~5 000–12 000/час |
| EDS-анализ | точечный/карта, до 10 зон | от ~4 000–9 000/час |
| EBSD | текстура/ориентации, участок | от ~7 000–15 000/час |
| ПЭМ (TEM) | тонкие фольги, 1 сетка | от ~12 000–30 000/час |
| Подготовка образца | резка/заливка/шлифовка/полировка | от ~2 000–6 000/шт |
| Напыление проводящего слоя | Au/Pd/C, вакуум | от ~1 500–3 500/партия |
Возможности подрядчиков
- СЭМ с вторичными/обратно-отражёнными электронами, фрактография, коррозия, покрытия.
- EDS для полуколичественного состава, EBSD для текстуры/зернограничных карт.
- ПЭМ для тонких фольг и осадков, фотографирование высоких увеличений.
- Отчёт с микроизображениями и картами, по запросу — сырьевые файлы и метаданные.
Что указать в ТЗ
- Материал/марка, цель исследования (дефект, покрытие, структура, состав).
- Габариты, форма и состояние поверхности, допускается ли напыление проводящего слоя.
- Зоны интереса, требуемые увеличения/поля, перечень измеряемых параметров.
- Необходимые методы: СЭМ/EDS/EBSD/ПЭМ, формат отчёта и количество снимков.
- Сроки, объём партии образцов, требования к маркировке и трассируемости.
FAQ
Нужна ли проводящая напылённая плёнка для диэлектриков?
Да, для неметаллов обычно наносят Au/Pd или C, иначе возможны артефакты зарядки и плохой контраст.
Какие ограничения по размеру и толщине образцов?
Стандартный держатель СЭМ — до нескольких сантиметров по стороне и высоте, для ПЭМ требуются ультратонкие фольги или реплики.
Что включают в отчёт по результатам?
Микрофото с масштабом, параметры съёмки, точки EDS/карты, при EBSD — карты ориентаций и легенды, выводы по поставленным вопросам.